TH2829系列自動(dòng)元件分析儀應(yīng)用高速處理器和新的軟件系統(tǒng)，使其擁有更高的測(cè)試速度、更全面的分析功能和友好的人機(jī)交互體驗(yàn)。精心設(shè)計(jì)的測(cè)量電路和優(yōu)化的算法，進(jìn)一步提升了低D值電容和高Q值電感的測(cè)試穩(wěn)定性。儀器提供的10V交流測(cè)試電平、10V/100mA偏置電源和獨(dú)立的10V/50mA DC電源，使本儀器可更方便地應(yīng)用于各種無源/有源器件的測(cè)試。雙主副參數(shù)顯示、增強(qiáng)的顯示系統(tǒng)設(shè)計(jì)、多達(dá)150點(diǎn)的列表掃描、多種參數(shù)的圖形分析能力，使儀器能滿足用戶多的應(yīng)用需求。得益于新一代處理器的應(yīng)用，使儀器具有了更強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力，可將測(cè)試結(jié)果方便地存儲(chǔ)于U盤或通過多種接口上傳至上位PC或網(wǎng)絡(luò)，推進(jìn)測(cè)試自動(dòng)化，提高測(cè)試效率。本機(jī)測(cè)試頻率為：20Hz-1MHz。具有0.05%的測(cè)試準(zhǔn)確度、9ms/次的高測(cè)試速度。儀器配有HANDLER、USB、LAN、RS232C 、DCI、GPIB（選配）等豐富的接口，無不彰顯豐富的資源，將帶給客戶較好的性價(jià)比體驗(yàn)。TH2829系列元件分析儀可*適用于各種工業(yè)和標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試要求。

自動(dòng)元件分析儀TH2829C

• 應(yīng)用

• ■無源元件

  電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析

  ■半導(dǎo)體元件

  LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

  ■其它元件

  印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估

  ■介質(zhì)材料

  塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估

  ■磁性材料

  鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估

  ■半導(dǎo)體材料

  半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性

  ■液晶單元

  介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

■ LCR自動(dòng)平衡測(cè)試?yán)碚撌敲绹?/span>HP公司一九八幾年提出來的，這是全*好測(cè)試方法。自動(dòng)平衡保證全頻段測(cè)試的精度：

■ 普通電橋是使用運(yùn)放采樣信號(hào)，運(yùn)放缺點(diǎn)輸入端有偏置電流，流過被測(cè)件跟流過采樣電阻的電流不一致，電流的誤差是取消不了的，清零是沒用的。

■ 自動(dòng)平衡不采用運(yùn)放， 而采用FPGA加高速ADC采樣，另外做了一個(gè)信號(hào)源同時(shí)加在被測(cè)件上，來抵消普通LCR這種誤差,用這種方法能保證更高的測(cè)試精度跟測(cè)試范圍。

■ 目前市面上只有同惠的LCR采用自動(dòng)平衡測(cè)試原理。