TH2838，TH2838H，TH2838A 是采用自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器，其0.05%的基本精度、快達(dá)5.6ms 的測(cè)試速度、20Hz-2MHz的頻率范圍及高達(dá)1GΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于測(cè)量低D電容器和高Q 電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。TH2838，TH2838H，TH2838A 支持20V交流測(cè)試信號(hào)和40V直流偏置的高功率測(cè)試條件、增強(qiáng)的多參數(shù)列表掃描/多參數(shù)圖形分析能力將有利于用戶擴(kuò)展元件全面評(píng)價(jià)的能力。TH2838，TH2838H，TH2838A 是電子元器件設(shè)計(jì)、檢驗(yàn)、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測(cè)試的強(qiáng)有力工具。它的優(yōu)良性能和功能為電路的設(shè)計(jì)和開發(fā)以及材料（電子材料和非電子材料）的研究和開發(fā)提供了強(qiáng)有力的工具。TH2838，TH2838H，TH2838A 以其性能可以實(shí)現(xiàn)如IEC和MIL標(biāo)準(zhǔn)的各種測(cè)試。

精密阻抗分析儀TH2838

• 應(yīng)用

• ■ 無(wú)源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。

  ■ 半導(dǎo)體元件：LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

  ■ 其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估

  ■ 介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估

  ■ 磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估

  ■ 半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性

  ■ 液晶單元：介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

■ LCR自動(dòng)平衡測(cè)試?yán)碚撌敲绹?guó)HP公司一九八幾年提出來(lái)的，這是全*好測(cè)試方法。自動(dòng)平衡保證全頻段測(cè)試的精度：

■ 普通電橋是使用運(yùn)放采樣信號(hào)，運(yùn)放缺點(diǎn)輸入端有偏置電流，流過(guò)被測(cè)件跟流過(guò)采樣電阻的電流不一致，電流的誤差是取消不了的，清零是沒(méi)用的。

■ 自動(dòng)平衡不采用運(yùn)放， 而采用FPGA加高速ADC采樣，另外做了一個(gè)信號(hào)源同時(shí)加在被測(cè)件上，來(lái)抵消普通LCR這種誤差,用這種方法能保證更高的測(cè)試精度跟測(cè)試范圍。

■ 目前市面上只有同惠的LCR采用自動(dòng)平衡測(cè)試原理。